La microscopie par effet tunnel est une technique d'imagerie qui permet d'atteindre la résolution du millionième de millimètre (ou nanomètre) et de distinguer ainsi les atomes à la surface d'un objet

.
Cet instrument a été développé par G. Binnig et H. Röhrer

au début des années 80 au laboratoire de recherche IBM en Suisse. Les deux inventeurs ont été récompensés par le prix Nobel de physique en 1986 pour cette invention révolutionnaire.
Le microscope à effet tunnel est couramment prénommé
STM pour
Scanning Tunneling Microscope en anglais.